Scherrer Equation

Scherrer Equation

Introduction

The Scherrer Equation is used frequently in X-Ray analysis, particularly powder diffraction, of materials. It relates the peak breadth of a specific phase of a material to the mean crystallite size of that material. It is the quantitative equivalent of saying that the larger a material's crystallites are, the sharper its XRD peaks will be.

The equation takes the form:eta_{hkl}=frac{K lambda}{L_{hkl}cos heta_{hkl

Where:

β is the breadth of the peak of a specific phase (hkl)

K is a constant that varies with the method of taking the breadth (0.89λ is the wavelength of incident x-rays

θ is the center angle of the peak

L is the crystallite length

cite journal
title = The Scherrer Formula for X-Ray Particle Size Determination
authorLink = Patterson, A. L.
journal = Phys. Rev.
volume = 56
number = 10
pages = 978-982
year = 1939
month = Nov
doi = 10.1103/PhysRev.56.978
publisher = American Physical Society


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